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日本J-RAS绝缘劣化试验
离子迁移实验装置是一种信赖性试验设备，原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压( BIAS VOLTAGE ), 经过长时间的测试(1 ～1000 小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生( ION MIGRATION ), 并记录电阻值变化状况，故又叫做 CAF试验，绝缘阻力电阻试验，或者是 OPEN/SHORT 试验，我们将其统称为绝缘劣化试验。
产品优势
1.简单/便利
△采用驱动计测，测试时焊接工序大幅减少。 △软件设计简单明了，能够非常直观得操作。
△配有过程中的记录、报告相关的报表功能。 △测试中，设备可以单独运行，电脑电源切断也不受影响。
2.高性能&高机能
△因为每个通道都单独配有电压/计测电路，可以做到16ms的计测间隔。 →迁移现象的检测能力更高，对产品品质把控更精准。
△一台电脑z大可以增设400通道。 △每个通道可以设定不同的电压。
3.可靠性更高&操作更简洁
△具有自身诊断机能，把异常计测防范于未然。 △配有CF卡，以防设备故障数据丢失。
△每个单元独立，其中一个单元损坏，可以单独拆卸维修，而不影响其他通道使用。
△标准配置也可以接入1~300V的电压范围。
用途
△PCB板、焊接、树脂、导电性粘着剂、绝缘材料等电迁移测试。
△作为高性能/多通道绝缘电阻测试装置，可以在多领域利用。
绝缘劣化试验产品来源：
https://www.ybzhan.cn/st133409/list_793409.html
http://www.sz-skyan.com/Products-13879487.html